МЕТОДЫ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНОГО И ДИНАМИЧЕСКОГО ТЕНЗОМЕТРИРОВАНИЯ

Автор: Денис Владимирович Конурин

Соавторы: Р.А. Чуйкин

Организация: АО «ОКБМ Африкантов»

Рисунок 1 – Экспериментальная зависимость деформаций тензорезистора (сплошная линия) и дополнительного провода от температуры (прерывистая линия)

Цель работы заключалась в разработке:

    - метода тензометрирования оборудования РУ при повышенных температурах без применения точечной сварки;

    - метода динамического тензометрирования.

Во-первых, авторами было проведено исследование влияния температурного воздействия на показания приклеиваемого тензорезистора ZFLA [1].  По результатам первоначальных испытаний тензорезистора была установлена зависимость деформаций тензорезистора от температуры. Показания деформаций значительно превышали его паспортные значения. 

Анализируя полученные результаты, было сделано предположение, что значительную часть деформаций от нагрева составляет фиктивная деформация провода тензорезистора вследствие изменения его сопротивления.

Для подтверждения влияния изменения сопротивления провода от температуры на показания тензорезистора было принято решение подключить к усилителю измерительному дополнительный провод в непосредственной близости от провода тензорезистора. После испытания тензорезистора с дополнительным проводом были получены данные, представленные на рисунке 1.  

В итоге был сделан вывод, что вместо компенсационного тензорезистора для учета влияния температуры на показания рабочего тензорезистора необходимо и достаточно применять дополнительный дублирующий провод.

Во-вторых, авторами был разработан метод динамического тензометрирования ответственного оборудования РУ с использованием усилителя измерительного MGCplus и измерительно-вычислительного комплекса MIC-400 и выполнены работы по определению амплитудно-частотных характеристик тензорезисторов, установленных с использованием цианокрилатного клея. 

Объединив измерительно-вычислительный комплекс MIC-400 и усилитель измерительный MGCplus, появилась возможность регистрировать измерительный сигнал с частотой дискретизации 0-7200 Гц с полосой пропускания 0-3600 Гц, что позволило производить динамическое тензометрирование объектов контроля измерительно-вычислительным комплексом MIC-400 без измерительной платы, предназначенной для измерений быстропротекающих процессов.

1. Конурин Д.В., Пичков С.Н., Шишулин Д.Н. Оценка влияния температурного воздействия на показания приклеиваемых тензорезисторов для испытаний при 300°С// Научно-технический журнал. — Нижний Новгород: НГТУ им. Р.Е. Алексеева, 2015. — 342 с.